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近代物理研究所 [5]
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2015 [1]
2007 [1]
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Recrystallization effects in GeV Bi ion implanted 4H-SiC Schottky barrier diode investigated by cross-sectional Micro-Raman spectroscopy
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2020, 卷号: 478, 页码: 5-10
作者:
Huang, Mingmin
;
Yang, Zhimei
;
Wang, Shaomin
;
Liu, Jiyuan
;
Gong, Min
收藏
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浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2021/12/15
Schottky barrier diodes
Raman spectroscopy
Recrystallization effect
Swift heavy ion
SiC
Damage and recovery behavior of 4H-SiC implanted with He ions
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 449, 页码: 54-57
作者:
Zhang, Chonghong
;
Yang, Yitao
;
Su, Changhao
;
Ding, Zhaonan
;
Song, Yin
收藏
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浏览/下载:99/0
  |  
提交时间:2019/11/10
4H-SiC
He ions implantation
Nanoindentation
Raman
Graphite
Thermal annealing
Degradation mechanisms of optoelectric properties of GaN via highly-charged Bi-209(33+) ions irradiation
期刊论文
APPLIED SURFACE SCIENCE, 2018, 卷号: 440, 页码: 814-820
作者:
Xian, Y. Q.
;
Zhang, L. Q.
;
Li, J. Y.
;
Su, C. H.
;
Chen, Y. G.
收藏
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浏览/下载:36/0
  |  
提交时间:2018/05/22
GaN
Highly-charged bismuth-ion irradiation
Raman spectrum
Varying temperature photoluminescence (PL) spectrum
Optoelectric properties
Structures and optical properties of H-2(+)-implanted GaN epi-layers
期刊论文
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2015, 卷号: 48
作者:
收藏
  |  
浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2018/07/05
Gan Epitaxial Films
H-2(+) Implantation
Implantation Damage
Cross-sectional Transmission Electron Microscopy
Dislocation Loops
Damage accumulation in gallium nitride irradiated with various energetic heavy ions
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2007, 卷号: 256, 期号: 1, 页码: 199-206
作者:
Zhang, C. H.
;
Song, Y.
;
Sun, Y. M.
;
Chen, H.
;
Yang, Y. T.
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2010/10/29
GaN
swift heavv ions
slow highly-charged ions
RBS-channeling
Raman scattering
TEM
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