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一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法 专利
专利号: CN202011109442.1, 申请日期: 2021-10-15, 公开日期: 2021-03-12
作者:  陈铁桥;  李思远;  李海巍;  王爽;  刘学斌
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干涉型成像光谱仪内方位元素及畸变标定方法 专利
专利号: CN202010461031.2, 申请日期: 2021-09-14, 公开日期: 2021-09-14
作者:  刘尚阔;  周艳;  赵建科;  曹昆;  李晶
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时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标方法及系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN102841342, 申请日期: 2013-03-27, 公开日期: 2013-03-27
作者:  石大莲;  高静
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时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标系统 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202837540, 申请日期: 2013-03-27, 公开日期: 2013-03-27
作者:  高静;  石大莲
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