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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：上海光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Structural change of laser-irradiated Ge2Sb2Te5 films studied by electrical property measurement 期刊论文 j. non-cryst. solids, 2008, 卷号: 354, 期号: 52-54, 页码: 5563, 5566 Huajun Sun; Lisong Hou; Yiqun Wu; Jingsong Wei 收藏  |  浏览/下载：1155/261  |  提交时间：2009/09/22 Amorphous metals  metallic glasses  Alloys  Amorphous semiconductors  III-V Semiconductors  Crystallization  Glass ceramics  Conductivity  Films and coatings  Sputtering  Glass transition  Radiation effects  Laser-matter interactions  Microcrystallinity  Phases and equilibria  Structure  Long range order  Short-range order  Structural relaxation  X-ray diffraction   LiGaO_2衬底上ZnO外延膜的结构与光学特性 期刊论文 光学学报, 2008, 卷号: 28, 期号: 7, 页码: 1420, 1424 黄涛华; 周圣明; 滕浩; 林辉; 王军 收藏  |  浏览/下载：626/102  |  提交时间：2009/09/24 薄膜光学  LiGaO2  半导体材料  Magnetron sputtering  ZnO薄膜  Semiconductor material  磁控溅射  Thin film otpics  LiGaO2  ZnO films  光致发光谱   Mo／Si软X射线多层膜的界面粗糙度研究 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 763, 766 秦俊岭; 邵建达; 易葵; 周洪军; 霍同林; 范正修 收藏  |  浏览/下载：820/182  |  提交时间：2009/09/22 Mo／Si多层膜  Atomic force microscopy  软X射线  Magnetron sputtering  界面粗糙度  Surface roughness  反射率  X ray diffraction   用不同的Mo靶溅射功率制备Mo／Si多层膜 期刊论文 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 1, 页码: 67, 70 秦俊岭; 邵建达; 易葵 收藏  |  浏览/下载：928/163  |  提交时间：2009/09/22 Mo靶  Atomic force microscopy  Mo／Si多层膜  Magnetron sputtering  溅射功率  Molybdenum  软X射线  Reflection  反射率  Surface morphology  Surface roughness  X ray diffraction analysis  X rays