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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：沈阳自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种SICM的幅度调制成像模式扫描装置和方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN105842484A, 申请日期: 2016-08-10, 作者:  刘连庆;  李鹏;  李广勇;  王越超;  杨洋 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2016/09/07 面向单细胞分析的SICM 新型成像模式与定量激励方法研究 学位论文 博士, 中国科学院沈阳自动化研究所: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2015 作者:  李鹏 收藏  |  浏览/下载：53/0  |  提交时间：2015/08/20 单细胞分析  扫描离子电导显微镜  同相电压调制模式  电容补偿技术  激励定量化分析   Amplitude Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy 期刊论文 Journal of Laboratory Automation, 2015, 卷号: 20, 期号: 4, 页码: 457-462 作者:  Li P(李鹏);  Liu LQ(刘连庆);  Yang Y(杨洋);  Zhou L(周磊);  Wang D(王栋) 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2015/08/24 scanning ion conductance microscopy  AM mode  AC voltage  capacitance compensation  nanoscale imaging   In-Phase Bias Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy With Capacitance Compensation 期刊论文 IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2015, 卷号: 62, 期号: 10, 页码: 6508-6518 作者:  Li P(李鹏);  Liu LQ(刘连庆);  Yang Y(杨洋);  Wang YC(王越超);  Li GY(李广勇) 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/10/08 Capacitance compensation (CC)  in-phase bias modulation (IPBM) mode  scanning ion conductance microscopy (SICM)  signal-to-noise ratio (SNR)   Phase modulation mode of scanning ion conductance microscopy 期刊论文 Applied Physics Letters, 2014, 卷号: 105, 期号: 5, 页码: 1-4 作者:  Li P(李鹏);  Liu LQ(刘连庆);  Wang YC(王越超);  Yang Y(杨洋);  Zhang CL(张常麟) 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2014/11/03 LIVING CELLS  NANOSCALE