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嵌段共聚物自组装制造纳米结构的方法 专利
专利号: CN201610066983.8, 申请日期: 2018-06-26, 公开日期: 2016-05-11
作者:  孟令款;  闫江
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P型MOSFET的制造方法 专利
专利号: CN201210506496.0, 申请日期: 2018-05-22, 公开日期: 2014-06-11
作者:  周华杰;  梁擎擎;  徐秋霞;  朱慧珑;  许高博
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金属氧化物半导体控制晶闸管的di/dt优化 期刊论文
半导体技术, 2018
作者:  韩郑生;  宋李梅;  胡飞
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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 专利
专利号: CN201410643283.1, 申请日期: 2017-06-20, 公开日期: 2015-03-11
作者:  汤益丹;  白云;  申华军;  霍瑞彬;  刘新宇
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半导体器件的制造方法 专利
专利号: CN201210505744.X, 申请日期: 2016-09-28, 公开日期: 2014-06-11
作者:  周华杰;  陈大鹏;  徐秋霞;  朱慧珑;  许高博
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InP表面氮化对Al2O3/InP金属氧化物半导体电容界面特性及漏电特性的影响 期刊论文
真空科学与技术学报, 2016
作者:  曹明民;  林子曾;  刘洪刚;  王盛凯
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多栅晶体管及其制造方法 专利
专利号: CN201110199673.0, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2013-01-16
作者:  李俊峰;  赵超;  罗军
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半导体器件及其制造方法 专利
专利号: CN201210083156.1, 申请日期: 2016-08-10, 公开日期: 2013-10-23
作者:  徐秋霞;  殷华湘;  马小龙;  陈大鹏
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一种浅沟槽隔离结构及其制造方法 专利
专利号: CN201210331626.1, 申请日期: 2016-06-08, 公开日期: 2014-03-26
作者:  赵超;  钟汇才;  梁擎擎
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高稳定性非晶态金属氧化物TFT器件 专利
专利号: CN201110257880.7, 申请日期: 2016-03-30, 公开日期: 2013-03-13
作者:  王玉光;  殷华湘;  董立军;  陈大鹏
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