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新疆理化技术研究所 [2]
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期刊论文 [2]
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2022 [1]
2021 [1]
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Total Ionizing Dose Effects of the Color Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Image Sensor at Different Bias
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2022, 卷号: 17, 期号: 1, 页码: 121-127
作者:
Yang, ZK (Yang, Zhikang) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen, Lin) [1]
;
Li, YD (Li, Yudong) [1]
;
Liu, BK (Liu, Bingkai) [1] , [2]
;
Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2]
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提交时间:2022/06/21
Color CMOS Image Sensor
Radiation Damage
Total Ionizing Dose Effects
Bias Condition
Mechanism of Ionization Damage in Large Eight-Transistor Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Color Image Sensors
期刊论文
JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2021, 卷号: 16, 期号: 11, 页码: 1755-1761
作者:
Feng, J (Feng, Jie) [1] , [2]
;
Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2] , [3]
;
Li, YD (Li, Yu-Dong) [1] , [2]
;
Wen, L (Wen, Lin) [1] , [2]
;
Guo, Q (Guo, Qi) [1] , [2]
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提交时间:2022/03/24
CMOS Color Image Sensor
Ionization Damage
Radiation-Sensitive Parameters
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