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一种时间分辨单光子计数二维成像系统及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2012-01-01, 公开日期: 2012-06-20
俞文凯; 翟光杰; 王超
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一种互补测量的单光子光谱计数成像系统及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2012-01-01, 公开日期: 2012-11-07
翟光杰; 王超; 赵清; 俞文凯; 刘雪峰
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