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科研机构
西安交通大学 [10]
内容类型
期刊论文 [10]
发表日期
2018 [1]
2017 [2]
2015 [2]
2013 [1]
2012 [1]
2009 [3]
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专题:西安交通大学
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On-Orbit Single Event Effect of the Digital Signal Processor of the Alpha Magnetic Spectrometer and Discrepancy Analysis for the Rate Prediction
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 页码: 1140-1146
作者:
Fan, Yun Yun
;
Cai, Xu Dong
;
He, Chao Hui
;
Liu, Dong
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浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/11/26
single event upset (SEU)
single event function interrupt (SEFI)
prediction
DSP
International Space Station (ISS)
Single Event Upset Diagnosis and Recovery in On-Chip-Memory
期刊论文
Hedianzixue Yu Tance Jishu/Nuclear Electronics and Detection Technology, 2017, 卷号: 37, 页码: 138-141
作者:
Yang, Wei-Tao
;
He, Chao-Hui
;
Du, Xue-Cheng
;
Shen, Shuai-Shuai
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/11/26
On-Chip-Memory
Single Event Upset
Zynq-7000
A power-delay-product efficient and SEU-tolerant latch design
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2017, 卷号: 14
作者:
Liu, Pei
;
Zhao, Tian
;
Liang, Feng
;
Zhao, Jizhong
;
Jiang, Peilin
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2019/11/26
power-delay-product
latch
single event upset
Low power and high write speed SEU tolerant SRAM data cell design
期刊论文
SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES, 2015, 卷号: 58, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 1983-1988
作者:
Wang Li
;
Zhang GuoHe
;
Zeng YunLin
;
Shao ZhiBiao
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/02
SRAM
high speed
low power
single event upset
A novel SEU tolerant SRAM data cell design
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2015, 卷号: 12, 期号: [db:dc_citation_issue]
作者:
Zhang, Guohe
;
Zeng, Yunlin
;
Liang, Feng
;
Chen, Kebin
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/02
radiation-hardened SRAM
single event upset
Single event upset sensitivity of 45 nm FDSOI and SOI FinFET SRAM
期刊论文
SCIENCE CHINA-TECHNOLOGICAL SCIENCES, 2013, 卷号: 56, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 780-785
作者:
Tang Du
;
Li YongHong
;
Zhang GuoHe
;
He ChaoHui
;
Fan YunYun
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/03
SOI FinFET SRAM
single event upset sensitivity
FDSOI SRAM
A novel single event upset hardened CMOS SRAM cell
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2012, 卷号: 9, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 140-145
作者:
Zhang, Guohe
;
Shao, Jun
;
Liang, Feng
;
Bao, Dongxuan
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/10
single event-upset
radiation-hardened SRAM
Experimental study on heavy ion single event effects in SOI SRAMs
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2009, 卷号: 267, 期号: 1, 页码: 83-86
作者:
Li Yonghong
;
He Chaohui
;
Zhao Fazhan
;
Guo Tianlei
;
Liu Gang
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/12/18
SOI SRAM
Single event upset rate
Single event upset
Small sample method for predicting single event upset rate in space orbits
期刊论文
Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology, 2009, 卷号: 43, 期号: 2, 页码: 165-169
作者:
Ren, Xue-Ming
;
He, Chao-Hui
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/18
Bayes theory
Experiment data
SEU rates
Single event upsets
Small samples
Space orbits
Prediction for single event upset rate in space orbits based on252Cf experimental results
期刊论文
Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology, 2009, 卷号: 43, 期号: 11, 页码: 1029-1033
作者:
Li, Yong-Hong
;
He, Chao-Hui
;
Zhou, Hui
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/18
Geo-stationary orbits
SEU cross-section
SEU rates
Single event upsets
Space orbits
Static random access memory
^252Cf source
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