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Experimental study of pulse neutron irradiation damage in SiGe HBT 期刊论文
Journal of Nuclear Science and Technology, 2018
作者:  Lawal, Olarewaju Mubashiru;  Li, Zhuoqi;  Liu, Shuhuan;  Hussain, Aqil;  Yang, JiangKun
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/19
Total Ionizing Dose Effects of SiGe HBTs Induced by Co-60 Gamma-Ray Irradiation 期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND ENGINEERING, 2018, 卷号: 191, 页码: 98-103
作者:  Liu, Shu-Huan;  Hussain, Aqil;  Li, Da;  Guo, Xiaoqiang;  Li, Zhuo-Qi
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/11/19
Investigation of enhanced low dose rate sensitivity in SiGe HBTs by Co-60 gamma irradiation under different biases 期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 84, 页码: 105-111
作者:  Zhang, Jin-xin;  Guo, Qi;  Guo, Hong-xia;  Lu, Wu;  He, Chao-hui
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/11/26
Numerical Simulation of Bias Effect on Dose Rate Effect of SiGe Heterojunction Bipolar Transistor 期刊论文
Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology, 2017, 卷号: 51, 页码: 549-554
作者:  Ma, Ting;  Zhang, Jin-Xin;  He, Chao-Hui;  Tang, Du;  Li, Pei
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/11/26
Heavy Ion and Laser Microbeam Induced Current Transients in SiGe Heterojunction Bipolar Transistor 期刊论文
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2017, 卷号: 34
作者:  Li, Pei;  He, Chao-Hui;  Guo, Gang;  Guo, Hong-Xia;  Zhang, Feng-Qi
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/11/26
Three-dimensional simulation of fabrication process-dependent effects on single event effects of SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26
作者:  Zhang, Jin-Xin;  He, Chao-Hui;  Guo, Hong-Xia;  Li, Pei;  Guo, Bao-Long
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/11/26
不同偏置影响SiGe HBT剂量率效应数值模拟 期刊论文
原子能科学技术, 2017, 页码: 549-554
作者:  马婷;  张晋新;  贺朝会;  唐杜;  李培
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/11/26
SiGe HBT中子-γ协同效应及剂量率效应研究 学位论文
2017
作者:  马婷
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/11/26
An investigation of ionizing radiation damage in different SiGe processes 期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26
作者:  Li, Pei;  Liu, Mo-Han;  He, Chao-Hui;  Guo, Hong-Xia;  Zhang, Jin-Xin
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/26
An Investigation of ELDRS in Different SiGe Processes 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2017, 卷号: 64, 页码: 1137-1141
作者:  Li, Pei;  He, Chaohui;  Guo, Hongxia;  Guo, Qi;  Zhang, Jinxin
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/26

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