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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 基于自热修正的SOI NMOSFETs热载流子注入效应寿命预测方法 期刊论文 中国科学信息科学, 2014 冯慧; 安霞; 杨东; 谭斐; 黄良喜; 武唯康; 张兴; 黄如 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/11 自热效应  热载流子注入效应  热电阻  寿命预测  SOI   Halo注入角度对热载流子效应的影响及优化 期刊论文 固体电子学研究与进展, 2007 王兵冰; 汪洋; 黄如; 张兴 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/11 Halo 热载流子效应 短沟效应 漏感应势垒降低效应 N型金属-氧化物-半导体场效应晶体管   关态应力下P-MOSFETs的退化 期刊论文 半导体学报, 2001 杨存宇; 王子欧; 谭长华; 许铭真 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/11 关态应力  栅感应漏电(GIDL)  界面陷阱  HCI   MOSFET开态热载流子效应可靠性 期刊论文 半导体杂志, 2000 穆甫臣; 薛静; 许铭真; 谭长华 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/11 可靠性  热载流子效应  金属氧化物半导体场效应晶体管  寿命预测模型