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| Total ionizing radiation effects of 2-T SONOS for 130 nm/4 Mb NOR flash memory technology 期刊论文
2016, 2016
QIAO FengYing; PAN LiYang; YU Xiao; MA HaoZhi; WU Dong; XU Jun; QIAO FengYing; PAN LiYang; YU Xiao; MA HaoZhi; WU Dong; XU Jun
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| 基于多种通信方式的监护中心的设计与实现 期刊论文
2016, 2016
陈威; 张跃; CHEN Wei; ZHANG Yue
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| A PD-SOI based DTI-LOCOS combined cross isolation technique for minimizing TID radiation induced leakage in high density memory 期刊论文
2016, 2016
谯凤英; 潘立阳; 伍冬; 刘利芳; 许军; Qiao Fengying; Pan Liyang; Wu Dong; Liu Lifang; Xu Jun
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| Cu/低k芯片铜引线键合中应力状态的数值分析 期刊论文
2016, 2016
常保华; 白笑怡; 都东; Chang Baohua; Bai Xiaoyi; Du Dong
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| 闪存高压电路的总剂量辐射效应研究 期刊论文
2016, 2016
杨大为; 刘利芳; 谯凤英; 陆虹; 潘立阳; YANG Da-wei; LIU Li-fang; QIAO Feng-ying; LU Hong; PAN Li-yang
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| SiGe HBT~(60) Co γ辐照总剂量效应 期刊论文
2016, 2016
刘书焕; 李达; 郭晓强; 林东升; 张伟; 刘新赞; Liu Shuhuan; Li Da; Guo Xiaoqiang; Lin Dongsheng; Zhang Wei; Liu Xinzan
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| 版图结构对MOS器件总剂量辐照特性的影响(英文) 期刊论文
2010, 2010
李冬梅; 皇甫丽英; 勾秋静; 王志华; Li Dongmei; Huangfu Liying; Gou Qiujing; Wang Zhihua
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| 星载商用塑封器件存在的问题及其对策 期刊论文
2010, 2010
姜秀杰; 王志华; 孙辉先; 辛敏成; JIANG Xiu-jie; WANG Zhi-hua; SUN Hui-xian; XIN Min-cheng
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| 不同设计参数MOS器件的γ射线总剂量效应 期刊论文
2010, 2010
李冬梅; 皇甫丽英; 王志华; 勾秋静; LI Dong-mei; HUANGFU Li-ying; GOU Qiu-jing; WANG Zhi-hua
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| Degradation of 4-chlorophenol in aqueous solution by gamma-radiation and ozone oxidation 期刊论文
2010, 2010
Hu, J; Wang, JL; Chen, R
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