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基于价值工程装配式建筑绿色度研究
期刊论文
工程管理学报, 2020, 期号: 2020-01, 页码: 19-24
作者:
李辉山
;
赵倩
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2020/12/18
装配式建筑
绿色度
价值工程
全寿命周期理论
层次分析法
Comprehensive characterization of TSV etching performance with phase-contrast X-ray microtomography
期刊论文
JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION, 2020, 卷号: 27, 页码: 1023-1032
作者:
Li, K
;
Deng, B
;
Zhang, HP
;
Yu, FC
;
Xue, YL
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2021/09/06
SILICON VIAS
RETRIEVAL
PROFILE
Study on copper protrusion of through-silicon via in a 3-D integrated circuit
期刊论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, 2019, 卷号: 755, 页码: 66-74
作者:
Song M
;
Wei ZQ
;
Wang BY
;
Chen L
;
Chen L
收藏
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浏览/下载:53/0
  |  
提交时间:2019/11/27
Through-silicon via
Cu protrusion
Annealing temperature
Electron backscatter diffraction
Finite element analysis
Stellar Spectra Classification by Support Vector Machine with Unlabeled Data
期刊论文
SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS, 2019, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 948-952
作者:
Zhang Jing
;
Tu Liang-ping
;
Wang Jie
;
Liu Zhong-bao
;
Lei Yu-fei
收藏
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浏览/下载:52/0
  |  
提交时间:2019/05/23
Stellar spectra
Intelligent classification
Twin support vector machine
Unlabeled data
A New Prewetting Process of Through Silicon Vias (TSV) Electroplating for 3D Integration
期刊论文
JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS, 2019, 卷号: 28, 期号: 3
作者:
Li, Cao
;
Nie, Jun
;
Zou, Jinglong
;
Liu, Sheng
;
Zheng, Huai
收藏
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浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2019/12/05
3D integration
prewetting
TSV electroplating
TSV filling
A new prewetting process of through silicon vias (TSV) electroplating for 3D integration
期刊论文
Journal of Microelectromechanical Systems, 2019, 卷号: 28, 期号: 3
作者:
Li, Cao
;
Nie, Jun
;
Zou, Jinglong
;
Liu, Sheng
;
Zheng, Huai
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/12/05
Study of Annular Copper-Filled TSVs of Sensor and Interposer Chips for 3-D Integration
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 2019, 卷号: 9, 期号: 3
作者:
Li, Cao
;
Zou, Jinglong
;
Liu, Sheng
;
Zheng, Huai
;
Fei, Peng
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/05
3-D integration
annular copper filling
throughsilicon via (TSV)
A New Cellular-Based Redundant TSV Structure for Clustered Faults
期刊论文
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2019, 卷号: Vol.27 No.2, 页码: 458-467
作者:
Qin Wang
;
Zechen Liu
;
Jianfei Jiang
;
Naifeng Jing
;
Weiguang Sheng
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/13
Investigation on impact of substrate on low-pass filter based on coaxial TSV
期刊论文
2019, 卷号: 16
作者:
Wang, Fengjuan
;
Li, He
;
Yu, Ningmei
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/20
through-silicon-via (TSV)
low-pass filter (LPF)
substrate impact
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