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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 The Effect of Atomic Thickness Conductive Layer on the Surface Plasmon of Noble Metal Nanostructures 其他 2014-01-01 Nannan Mao; Liming Xie; Jin Zhang 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 Atomic  isolation  Noble  noble  drawn  conductive  intense  plasmon  monolayer  dielectric  Atomic  isolation  Noble  noble  drawn  conductive  intense  plasmon  monolayer  dielectric   Ferroelectric, piezoelectric, and dielectric properties of BiScO3-PbTiO3-Pb(Cd1/3Nb2/3)O-3 ternary high temperature piezoelectric ceramics 其他 2013-01-01 Zhao, Tian-Long; Chen, Jianguo; Wang, Chun-Ming; Yu, Yang; Dong, Shuxiang 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/10 BISCO3-PBTIO3 CERAMICS  ELECTRICAL-PROPERTIES  MPB COMPOSITION  SYSTEM  PHASE  DEPENDENCE  SENSORS   High-isolation lateral RF MEMS capacitive switch based on HfO2 dielectric for high frequency applications 其他 2012-01-01 He, X. J.; Lv, Z. Q.; Liu, B.; Li, Z. H. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/10 Lateral switch  Electrothermal-actuation  RF MEMS  Capacitive switch  ALD process  POLYSILICON  CONTACT   Electrothermally actuated RF MEMS capacitive switch with atomic layer deposited (ALD) dielectrics 其他 2011-01-01 He, X.J.; Lv, Z.Q.; Liu, B.; Li, Z.H. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 Conductivity to first SBD of a stress induced leakage path in ultrathin thermal oxides 其他 2004-01-01 Xu, MZ; Tan, CH; He, YD 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 dielectric breakdown  gate oxide  MOS devices  reliability  GATE OXIDES  BREAKDOWN   Fabrication and characterization of a novel bulk Si micromachined distributed microwave phase shifter 其他 2004-01-01 Miao, M; Jin, YF; Zhang, JW; Wu, GY; Hao, YL; Zhang, HX 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 MEMS  microwave  phase shifter  fabrication  characterization  bulk micromachining   Effect of post-annealing on the physical and electrical properties of LaAlO3 gate dielectrics 其他 2004-01-01 Lu, XB; Zhang, X; Huang, R; Lu, HB; Chen, ZH; Zhou, HW; Wang, XP; Nguyen, BY; Wang, CZ 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 THERMAL-STABILITY  AMORPHOUS LAALO3  FILMS   The characteristics of nitrogen incorporated in HFNXO y gate dielectrics and the effects on the electrical properties 其他 2004-01-01 Kang, J.F.; Yu, Y.H.; Kwong, D.-L. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13