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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Investigation on TID tolerance of 65nm bulk silicon nMOSFETs 其他 2014-01-01 Chen, Yehua; An, Xia; Wu, Weikang; Yao, Zhibin; Zhang, Xing; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs 其他 2010-01-01 Wang, Jian; Wang, Wenhua; Huang, Detao; Xue, Shoubin; Wang, Sihao; Liu, Wen; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 NBTI DEGRADATION  RADIATION  INSTABILITY   电离层电子总含量的扰动及其对GPS定位的可能影响 其他 2000-01-01 萧佐; 张东和 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 电离层暴  GPS定位  电子总含量  声重力波  伪距测量  数据处理过程  不规则结构  参量变化  精确值  数据导出