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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Statistical Analysis on Performance Degradation of 90 nm bulk SiMOS Devices Irradiated by Heavy Ions 其他 2016-01-01 Zhexuan Ren; Xia An; Weikang Wu; Xing Zhang; Ru Huang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 irradiation  saturation  trapped  charges  irradiated  attributed  hardened  intrinsic  leakage  incident  irradiation  saturation  trapped  charges  irradiated  attributed  hardened  intrinsic  leakage  incident   Impact of heavy ion irradiation on CMOS current mirrors based on SOI and bulk Si substrates: mismatch and output impedance 其他 2015-01-01 Wu, Weikang; An, Xia; Tan, Fei; Chen, Yehua; Liu, Jingjing; Zhang, Yao; Zhang, Xing; Shen, Dongjun; Guo, Gang; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/04 current mirrors  heavy ions  damage  mismatch  output impedance  single event  PDSOI  MOSFETS  VARIABILITY  MICRODOSE  CIRCUITS  DEVICES  DESIGN   Heavy-Ion-Induced Permanent Damage in Ultra-deep Submicron Fully Depleted SOI Devices 其他 2012-01-01 Tan, Fei; An, Xia; Huang, Liangxi; Zhang, Xing; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 IRRADIATION   Effect of Heavy Ion Irradiation on the RF Performance of 0.18 mu m Bulk Si MOSFETs 其他 2012-01-01 Tan, Fei; Yang, Dong; An, Xia; Ye, Le; You, Li; Zhang, Xing; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 Irradiation induced order-disorder phase transformation in A(4)Zr(3)O(12) (A = Sc, Lu and Dy) 其他 2011-12-01 Zhang, J.; Wang, Y. Q.; Valdez, J. A.; Tang, M.; Sickafus, K. E.; 张建 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/07/22 ION-IRRADIATION  RADIATION TOLERANCE  NUCLEAR-WASTE  PLUTONIUM  IMMOBILIZATION  TRANSITION  ZIRCONIA  DISPOSAL  OXIDES   Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Wu, Dake; Pei, Yunpeng; Wang, Wenhua; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 THIN GATE OXIDES  HEAVY-ION IRRADIATION  INDUCED LEAKAGE CURRENT  RELIABILITY DEGRADATION  CMOS TRANSISTORS  DEPENDENCE  BREAKDOWN