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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：会议     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Statistical Modeling of SRAM Yield Performance and Circuit Variability (CPCI-S收录) 会议 作者:  Cheng, Qi[1];  Chen, Yijian[1] 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/04/11 SRAM  SASP  SAQP  circuit variability  statistical modeling  yield   COMPREHENSIVE INVESTIGATION AND DESIGN OF TUNNEL FET-BASED SRAM (CPCI-S收录) 会议 作者:  Zhu, Hao[1,2];  Huang, Qianqian[2];  Guo, Lingyi[2];  Yang, Libo[1,2];  Ye, Le[2] 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/11 Impacts of Process Variability of Alternating-Material Self-Aligned Multiple Patterning on SRAM Circuit Performance (CPCI-S收录) 会议 作者:  Han, Ting[1];  Hong, Chuyang[1];  Cheng, Qi[1];  Chen, Yijian[1] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/11 SRAM  circuit variability  static noise margin (SNM)  alternating-material (dual-material) self-aligned multiple patterning (altSAMP)  edge-placement errors (EPE)