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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 内容类型：会议     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Separation of Surface Roughness Profile from Raw Contour based on Empirical Mode Decomposition (CPCI-S收录) 会议 作者:  Liu, Shoubin[1];  Zhang, Hui[1] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/11 Surface Roughness Profile  EMD  IMFs  Mean Line   The Immunity of Doping-less Junctionless Transistor Variations Including the Line Edge Roughness (CPCI-S收录) 会议 作者:  Wan, Wenbo[1];  Lou, Haijun[1,2];  Xiao, Ying[1];  Lin, Xinnan[1] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/04/11 charge-plasma  Junctionless  LER  variation