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内容类型:会议论文
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Research on the Single Event Effect of CCD Analog Front-end for Satellite-borne directional polarization camera
会议论文
Shanghai, China, 2020-10-17-2020-10-20
作者:
Ping-ping Yao
;
Zhengyu Zou
;
Zhilong Xu
;
Donggen Luo
;
Jin Hong
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2021/12/10
Directional Polarimetric Camera
CCD imaging system
Image processing
single event effects
high-energy particles
single event latch-up
heavy-ion
Analog front end
The threshold voltage degradation of MOSFET in heavy-ion single event effect test
会议论文
Beijing, China, May 16, 2018 - May 18, 2018
作者:
Zhang, Zeming
;
Ma, Yingqi
;
Li, Dan
;
Tong, Chao
;
Guo, Xiaoxiao
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/12/26
A fault injection system for space imaging application
会议论文
Beijing, China, 2019-07-07
作者:
Wang, Jinqiao
;
Duan, Yongqiang
;
Ma, Tengfei
收藏
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浏览/下载:0/0
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提交时间:2020/03/04
space imaging
fault injection
scrubbing
SRAM-based FPGA
The dependence of single event effect on heavy ion angular irradiation by Geant4 simulation
会议论文
作者:
Li B(李博)
;
Guo S(郭硕)
;
Hao L(郝乐)
;
Bi JS(毕津顺)
;
Luo JJ(罗家俊)
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/05/10
Design of A Compact and Reconfigurable Onboard Data Handling System
会议论文
Melbourne, AUSTRALIA, DEC 11-13, 2018
作者:
Zhou, Qing
;
Zhao, Qingjie
;
Zhou, Li
;
An, Junshe
;
Xue, Changbin
收藏
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浏览/下载:56/0
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提交时间:2019/06/26
Onboard data handling system
FPGA scrubbing
Anti single event upset
Software reconfigurable
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
会议论文
作者:
Xi, Kai
;
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Sun, Youmei
;
Hou, Mingdong
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2018/08/20
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
会议论文
作者:
Xi, Kai
;
Sun, Youmei
;
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Liu, Tianqi
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2018/08/20
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
SINGLE EVENT EFFECT CHARACTERISTICS ANALYSIS OF TYPICAL CIRCUIT ELEMENTS IN SPACECRAFT POWER SYSTEMS
会议论文
作者:
Zhao Wen
;
He Chaohui
;
Chen Wei
;
Guo Xiaoqiang
;
Cong Peitian
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/11/26
mitigation approaches
single event effect
single event burnout
single event transients
Research on Single Event Latch-up Effect of CMOS based on TCAD
会议论文
PROCEEDINGS OF THE 2ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON RELIABILITY SYSTEMS ENGINEERING (ICRSE 2017), 2017-01-01
作者:
Jiang, Maogong
;
Fu, Guicui
;
Wan, Bo
;
Jia, Meisi
;
Qiu, Yao
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/30
CMOS Component
TCAD Simulation
Single Event Latch-up Effect
Reliability Design
Primary single event effect studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC)
会议论文
作者:
Zhang, Yao
;
Liu, Shuhuan
;
Du, Xuecheng
;
Yuan, Yuan
;
He, Chaohui
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/02
System-on-Chip
Irradiation experiments
Single event effect
Simulation
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