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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Pseudo-Functional Testing for Small Delay Defects Considering Power Supply Noise Effects 会议论文 2011 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, San Jose, CA, United states 作者:  Feng Yuan;  Xiao Liu;  Qiang Xu 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2015/08/25 virtual circuit model for low power scan testing in linear decompressor-based compression environment 会议论文 20th Asian Test Symposium, ATS 2011, New Delhi, India, November 20, 2011 - November 23, 2011 Chen Zhen; Li Jia; Xiang Dong; Huang Yu 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2013/10/08 Circuit theory  Filling  Low power electronics   含存储器数字电路系统的自动测试生成 会议论文 第四届中国测试学术会议论文集, 第四届中国测试学术会议, 中国河北秦皇岛北戴河, CNKI, 中国计算机学会容错计算专业委员会 成本茂; 鞠艳秋; 王红; 杨士元; Cheng benmao; Ju yanqiu; Wang hong; Yang shiyuan 收藏  |  浏览/下载：4/0 A fast and practical algorithm for absolute dominators searching 会议论文 作者:  Hu, Xiaojing;  Song, Zhengxiang;  Wang, Jianhua;  Geng, Yingsan;  Shen, Wang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/18 dominator gate  circuit graph  fanout  ATPG   AN OPTIMAL N-DETECTION TESTS GENERATION METHOD 会议论文 2011第三届机械与电气技术国际会议, 大连, 2011 作者:  GAIYOU HUANG;  JISHUN KUANG 收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2020/01/05 IC  Testing  N-detection  test  ATPG  fault  simulation  ILP