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科研机构
西安交通大学 [10]
内容类型
会议论文 [10]
发表日期
2018 [1]
2017 [1]
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2015 [1]
2013 [1]
2011 [4]
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内容类型:会议论文
专题:西安交通大学
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70
75
80
85
90
95
100
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发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Influence mechanisms of pulse duration on transformer oil breakdown characteristics
会议论文
作者:
Wang, Tonglei
;
Tao, Fengbo
;
Wei, Chao
;
Yang, Jinggang
;
Liu, Yang
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2019/11/26
Breakdown modes
Discharge characteristics
Electrical breakdown strengths
Polarity effect
Pre-breakdown phenomenon
Pulse durations
streamers
Transformer oil breakdown
A PIC-MCC Numerical Approach for Studying the Effect of Pulse Steepness on Vacuum Flashover
会议论文
作者:
Mao, Jiale
;
Wang, Shuang
;
Wu, Jingshen
;
Cheng, Yonghong
;
Bai, Lei
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/11/26
Bayesian Assessment Method of Device-Level Electromagnetic Pulse Effect based on Markov Chain Monte Carlo
会议论文
作者:
Chen Yuhao
;
Li Kejie
;
Xie Yanzhao
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/02
electromagnetic pulse
MCMC
effect assessment
Bayesian theory
A Pulse Generator for Simulating PD Behavior in MV Switchgear Based on Avalanche Effect
会议论文
作者:
Sun, Haojie
;
Sun, Yiwei
;
Ren, Zhengmou
;
Liu, Bin
;
Li, Hongjie
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/11/26
avlanche effect
field distribution
partial dischrge
COMSOL
switchgear
Physical Damage Effect of Microelectrodes Under Nanosecond Pulse Induced Breakdown
会议论文
作者:
Meng, Guodong
;
Cheng, Yonghong
;
Dong, Chengye
;
Chen, Lei
;
Men, Chuang
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/02
morphology change
nanogaps
injected energy
physical damage
nanosecond pulse
Effect of annealing temperature on ferroelectric electron emission of sol-gel PZT films
会议论文
作者:
Yaseen, Muhammad
;
Chen, Xiaofeng
;
Ren, Wei
;
Feng, Yujun
;
Shi, Peng
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/03
Sol-gel
PZT film
Pulse emission
Damage Effect of Typical Electronic Device under EMP
会议论文
作者:
Cheng, Yonghong
;
Ding, Man
;
Wu, Kai
;
Wang, Yajie
;
Zhou, Debo
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/10
electronic device
lightning surge pusle
component
failure
nanosecond square pulse
Damage effect of typical electronic device under EMP
会议论文
作者:
Cheng, Yonghong
;
Ding, Man
;
Wu, Kai
;
Wang, Yajie
;
Zhou, Debo
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/10
Characteristic size
Damage and failure
Electromagnetic environments
Electronic device
High technology
Integrated degree
Lightning surges
Square pulse
Damage effect of typical electronic device under EMP
会议论文
作者:
Cheng, Yonghong
;
Ding, Man
;
Wu, Kai
;
Wang, Yajie
;
Zhou, Debo
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/10
electronic device
failure
lightning surge pusle
nanosecond square pulse
Effect of Pulse Stress on Surface Charge of Epoxy Nanocomposites with TiO2 Particles
会议论文
作者:
Du, B. X.
;
Zhang, J. W.
;
Li, Jie
;
Wang, L.
;
Wu, Kai
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/10
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