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沈阳自动化研究所 [4]
西安光学精密机械研究... [1]
内容类型
专利 [5]
发表日期
2012 [2]
2010 [2]
2009 [1]
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INDOOR TESTING DEVICE FOR A PLURALITY OF ROTOR-CONTAINING FLYING OBJECTS
专利
专利类型: 发明, 专利号: US2012221291A1, 申请日期: 2012-08-30, 公开日期: 2015-03-17
作者:
Han JD(韩建达)
;
He YQ(何玉庆)
;
Gu F(谷丰)
;
Wang Z(王争)
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
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提交时间:2013/10/15
INDOOR TESTING DEVICE FOR A PLURALITY OF ROTOR-CONTAINING FLYING OBJECTS
专利
专利类型: 发明授权, 专利号: US8983792B2, 申请日期: 2012-08-30, 公开日期: 2015-03-17
作者:
Han JD(韩建达)
;
He YQ(何玉庆)
;
Gu F(谷丰)
;
Wang Z(王争)
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2015/10/19
一种高可用性工业以太网冗余方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN101753348A, 申请日期: 2010-06-23, 公开日期: 2011-11-09
作者:
于海斌
;
徐皑冬
;
姜立群
;
宋岩
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2013/10/15
一种高可用性工业以太网冗余方法
专利
专利类型: 发明授权, 专利号: CN101753348B, 申请日期: 2010-06-23, 公开日期: 2011-11-09
作者:
于海斌
;
徐皑冬
;
姜立群
;
宋岩
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2014/04/16
Intra-chip power and test signal generation for use with test structures on wafers
专利
专利号: US7605597, 申请日期: 2009-10-20, 公开日期: 2009-10-20
作者:
AGHABABAZADEH, MAJID
;
ESTABIL, JOSE J.
;
PAKDAMAN, NADER
;
STEINBRUECK, GARY L.
;
VICKERS, JAMES S.
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/23
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