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预测试样尺寸对疲劳寿命影响的方法 专利
专利号: ZL201610059873.9, 申请日期: 2018-02-16, 公开日期: 2018-02-16
作者:  洪友士;  孙成奇;  刘小龙
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一种用于自发荧光成像的空间加权的有限元重建方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810102314.7, 申请日期: 2008-03-20, 公开日期: 2009-09-23
作者:  田捷;  石金;  杨鑫;  徐敏
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