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一种从三维图像确定孔隙结构关键参数的方法 专利
专利号: ZL201811265575.0, 申请日期: 2020-06-05, 公开日期: 2020-06-05
作者:  徐志朋;  林缅;  江文滨
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一种多孔碳纳米薄膜及其微测辐射热计 专利
专利号: 2016105690464, 申请日期: 2017-07-18,
作者:  杨俊;  魏兴战;  汤林龙;  申钧;  周大华
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一种多孔碳纳米薄膜及其红外微测辐射热计 专利
专利号: 2016207605762, 申请日期: 2017-01-18,
作者:  杨俊;  魏兴战;  汤林龙;  申钧;  周大华
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聚合物的不可及孔隙体积和不可入孔隙半径的测定方法 专利
申请日期: 2015-01-01, 公开日期: 2015-04-29
作者:  侯吉瑞;  王楠;  赵凤兰;  郑波;  张宗勋
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