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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 瓦量级宽带掺镱光子晶体光纤超荧光光源 专利 专利号: CN100465505C, 申请日期: 2009-03-04, 公开日期: 2009-03-04 作者:  李乙钢;  刘胜利;  丁镭;  张炜;  闫培光 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/26 瓦量级宽带掺镱光子晶体光纤超荧光光源 专利 专利号: CN100465505C, 申请日期: 2009-03-04, 公开日期: 2009-03-04 作者:  李乙钢;  刘胜利;  丁镭;  张炜;  闫培光 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/26 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: ZL200510026554.X, 申请日期: 2008-04-23, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 陈晨; 辛国锋; 方祖捷 收藏  |  浏览/下载：38/4  |  提交时间：2011/07/14 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法 专利 专利号: CN100383541C, 申请日期: 2008-04-23, 公开日期: 2008-04-23 作者:  陈晨;  辛国锋;  方祖捷 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/26 半导体激光器热弛豫时间的测试装置 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200520042281.3, 申请日期: 2006-10-18, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 陈晨; 辛国锋; 方祖捷 收藏  |  浏览/下载：18/5  |  提交时间：2011/07/14 半导体激光器热弛豫时间的测试装置 专利 专利号: CN2828834Y, 申请日期: 2006-10-18, 公开日期: 2006-10-18 作者:  陈晨;  辛国锋;  方祖捷 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/24