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科研机构
微电子研究所 [4]
内容类型
专利 [4]
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2011 [1]
2010 [1]
2007 [1]
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内容类型:专利
专题:微电子研究所
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一种InP HBT器件侧墙的制备方法
专利
专利号: CN102244003A, 申请日期: 2011-11-16, 公开日期: 2011-11-16
作者:
金智
;
王显泰
;
郭建楠
;
苏永波
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2012/11/20
npn型InGaAs/InP DHBT外延层结构
专利
专利号: CN200810103253.6, 申请日期: 2010-08-25, 公开日期: 2009-10-07
作者:
金智
;
刘新宇
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2010/11/26
适用于增强型InGaP/AlGaAs/InGaAs PHEMT器件的栅退火方法
专利
专利号: CN101471260, 申请日期: 2007-12-26, 公开日期: 2009-07-01, 2010-11-26
作者:
黎明
;
徐静波
;
付晓君
收藏
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浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2010/11/26
InGaAs/InP HBT中亚微米发射极的湿法腐蚀方法
专利
专利号: CN200810104227.5, 公开日期: 2009-10-21
作者:
刘新宇
;
金智
收藏
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浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2010/11/26
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