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用于纵向NPN晶体管电离辐射损伤的定量测试方法 专利
申请日期: 2014-07-16,
作者:  陆妩;  郭旗;  王信;  马武英;  李豫东
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一种用于横向NPN晶体管电离辐射损伤的定量测试方法 专利
申请日期: 2014-07-16,
作者:  陆妩;  郭旗;  马武英;  王信;  孙静
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