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科研机构
上海微系统与信息技术... [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
1998 [1]
1994 [1]
1989 [1]
学科主题
Physics, M... [3]
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学科主题:Physics, Multidisciplinary
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Characterization of GaSb substrate wafers for MOCVD III-V antimonides
期刊论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997, 1998, 卷号: 160, 页码: 417-420
Peng, RW
;
Ding, YQ
;
Xu, CM
;
Wang, XG
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提交时间:2012/03/25
VAPOR-PHASE EPITAXY
GROWTH
CHARACTERIZATION OF CDTE AND HGCDTE EPILAYERS BY HOT-WALL MOCVD
期刊论文
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS AND DEVICES, 1994, 期号: 135, 页码: 347-350
PENG,RW
;
DING,YQ
;
WEI,GY
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浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2012/03/25
VAPOR-DEPOSITION GROWTH
GAAS
HG1-XCDXTE
MOVPE
PHOTOQUENCHING OF ELECTRONIC PARAMAGNETIC-RESONANCE ASGA AND METASTABLE MECHANISM OF EL2 DEFECT IN GAAS
期刊论文
CHINESE PHYSICS, 1989, 卷号: 9, 期号: 4, 页码: 976-981
ZOU, YX
;
WANG, GY
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提交时间:2012/03/25
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