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Study of the diffusion behaviour of MoO3 and ZnO on oxide thin films by SR-TXRF 期刊论文
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2001, 卷号: 32, 期号: 1, 页码: #REF!
作者:  Xu, WM;  Xu, JQ;  Wu, NZ;  Yan, JF;  Zhu, YF
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MoO3  ZnO  Al2O3  TiO2  SiO2  thin film  SR-TXRF  
DETERMINATION OF DEPTH PROFILING OF METAL TRACE IMPURITIES ON SI SURFACE USING TOTAL REFLECTION X-RAY-FLUORESCENCE 期刊论文
FRESENIUS JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY, 1993, 卷号: 345, 期号: 7, 页码: 518-520
作者:  Fan QM(范钦敏);  Liu YW(刘亚雯);  LI, DL;  Wei CL(魏诚林);  FAN, QM
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