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CMOS器件SEL效应电路级防护设计及试验验证 期刊论文
原子能科学技术, 2014, 卷号: 48, 期号: 4, 页码: 721-726
作者:  陈睿;  冯颖;  余永涛;  上官士鹏;  封国强
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