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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2004 [2]
2000 [1]
1992 [1]
学科主题
半导体材料 [4]
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学科主题:半导体材料
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Microstructural and compositional characteristics of GaN films grown on a ZnO-buffered Si(111) wafer
期刊论文
micron, 2004, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 475-480
Luo, XH
;
Wang, RM
;
Zhang, XP
;
Zhang, HZ
;
Yu, DP
;
Luo, MC
收藏
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浏览/下载:145/32
  |  
提交时间:2010/03/09
transmission electron microscopy
electron energy loss spectroscopy
molecular beam epitaxy
gallium nitride
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
EPITAXY
LAYER
Microstructural and compositional characteristics of GaN films grown on a ZnO-buffered Si(111) wafer
会议论文
international wuhan symposium on advanced electron microscopy (iwsaem), wuhan, peoples r china, oct 17-21, 2003
Luo XH
;
Wang RM
;
Zhang XP
;
Zhang HZ
;
Yu DP
;
Luo MC
收藏
  |  
浏览/下载:18/1
  |  
提交时间:2010/10/29
transmission electron microscopy
electron energy loss spectroscopy
molecular beam epitaxy
gallium nitride
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
EPITAXY
LAYER
Tentative analysis of Swirl defects in silicon crystals
期刊论文
journal of crystal growth, 2000, 卷号: 213, 期号: 3-4, 页码: 276-282
Fan TW
;
Qian JJ
;
Wu J
;
Lin LY
;
Yuan J
收藏
  |  
浏览/下载:80/0
  |  
提交时间:2010/08/12
swirl defect
silicon
electron energy loss spectroscopy
THE ADSORPTION OF O2 ON FESI SURFACES
期刊论文
surface science, 1992, 卷号: 269, 期号: 0, 页码: 1022-1031
HSU CC
;
DING SA
;
MA MS
;
WU JX
;
LIU XM
;
JI MR
收藏
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浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2010/11/15
METAL-SILICIDES
OXIDATION
OXYGEN
GROWTH
TRACER
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