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半导体研究所 [19]
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学科主题
半导体材料 [19]
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学科主题:半导体材料
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Effect of high temperature AlGaN buffer thickness on GaN Epilayer grown on Si(111) substrates
期刊论文
journal of materials science-materials in electronics, 2011, 卷号: 22, 期号: 8, 页码: 1028-1032
作者:
Pan X
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2011/09/14
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
PHASE EPITAXY
ALN INTERLAYERS
FILMS
STRESS
LAYERS
DISLOCATIONS
REDUCTION
DENSITY
DIODES
Cathodoluminescence of Yellow and Blue Luminescence in Undoped Semi-insulating GaN and n-GaN
期刊论文
chinese physics letters, 2011, 卷号: 28, 期号: 3, 页码: article no.37102
Hou QF
;
Wang XL
;
Xiao HL
;
Wang CM
;
Yang CB
;
Yin HB
;
Li JM
;
Wang ZG
收藏
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浏览/下载:41/4
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提交时间:2011/07/05
EPITAXIAL LAYERS
PHOTOLUMINESCENCE
ABSORPTION
CARBON
BAND
Dislocation core effect scattering in a quasitriangle potential well
期刊论文
applied physics letters, 2009, 卷号: 94, 期号: 11, 页码: art. no. 112102
作者:
Wei HY
收藏
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浏览/下载:236/104
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提交时间:2010/03/08
aluminium compounds
carrier density
carrier mobility
dislocation density
dislocation scattering
gallium compounds
III-V semiconductors
semiconductor heterojunctions
wide band gap semiconductors
Characterization of Thick GaN Films Directly Grown on Wet-Etching Patterned Sapphire by HVPE
期刊论文
chinese physics letters, 2009, 卷号: 26, 期号: 9, 页码: art. no. 096801
作者:
Yang JK
;
Wei TB
;
Duan RF
收藏
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浏览/下载:73/3
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提交时间:2010/03/08
VAPOR-PHASE EPITAXY
DISLOCATIONS
SUBSTRATE
LAYER
Hillocks and hexagonal pits in a thick film grown by HVPE
期刊论文
microelectronics journal, 2008, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 1556-1559
作者:
Duan RF
;
Wei TB
收藏
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浏览/下载:298/42
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提交时间:2010/03/08
GaN
HVPE
Hillocks
Pits
Cathodoluminescence
The influence of AlN/GaN superlattice intermediate layer on the properties of GaN grown on Si(111) substrates
期刊论文
chinese physics, 2007, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 1467-1471
Liu Z (Liu Zhe)
;
Wang XL (Wang Xiao-Liang)
;
Wang JX (Wang Jun-Xi)
;
Hu GX (Hu Guo-Xin)
;
Guo LC (Guo Lun-Chun)
;
Li JM (Li Jin-Min)
收藏
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浏览/下载:56/0
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提交时间:2010/03/29
GaN
Structural and Optical Performance of GaN Thick Film Grown by HVPE
期刊论文
半导体学报, 2007, 卷号: 28, 期号: 1, 页码: 19-23
作者:
Duan Ruifei
;
Liu Zhe
;
Duan Ruifei
;
Wei Tongbo
收藏
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2010/11/23
Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces
期刊论文
materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 275-278
Sun GS (Sun G. S.)
;
Liu XF (Liu X. F.)
;
Gong QC (Gong Q. C.)
;
Wang L (Wang L.)
;
Zhao WS (Zhao W. S.)
;
Li JY (Li J. Y.)
;
Zeng YP (Zeng Y. P.)
;
Li JM (Li J. M.)
收藏
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浏览/下载:44/0
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提交时间:2010/04/11
4H-SiC
homoepitaxial layers
surface morphological defect
optical microscopy
SILICON-CARBIDE
DISLOCATIONS
FILMS
Development of cross-hatch grid morphology and its effect on ordering growth of quantum dots
期刊论文
physica e-low-dimensional systems & nanostructures, 2005, 卷号: 25, 期号: 4, 页码: 592-596
作者:
Jin P
;
Xu B
收藏
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浏览/下载:60/0
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提交时间:2010/03/17
stress
Effect of the ratio of TMIn flow to group III flow on the properties of InGaN/GaN multiple quantum wells
期刊论文
acta physica sinica, 2004, 卷号: 53, 期号: 8, 页码: 2467-2471
Zhang, JC
;
Wang, JF
;
Wang, YT
;
Hui, Y
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浏览/下载:140/36
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提交时间:2010/03/09
triple-axis x-ray diffraction
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