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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
会议论文 [4]
发表日期
2008 [1]
2001 [2]
2000 [1]
学科主题
半导体材料 [4]
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学科主题:半导体材料
内容类型:会议论文
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Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes
会议论文
3rd ieee international conference of nano/micro engineered and molecular systems, sanya, peoples r china, jan 06-09, 2008
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
收藏
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2010/03/09
bulge test fracture property
silicon carbide thin films
Weibull distribution function
Orientation relationship between hexagonal inclusions and cubic GaN grown on GaAs(001) substrates
会议论文
11th international conference on molecular beam epitaxy (mbe-xi), beijing, peoples r china, sep 11-15, 2000
Qu B
;
Zheng XH
;
Wang YT
;
Xu DP
;
Lin SM
;
Yang H
;
Liang JW
收藏
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浏览/下载:23/0
  |  
提交时间:2010/11/15
X-ray diffraction
nitrides
semiconducting III-V materials
PHASE
FILMS
Structural evaluation of polycrystalline silicon thin films by hot-wire-assisted PECVD
会议论文
1st international conference on cat-cvd (hot wire cvd) process, kanazawa, japan, nov 14-17, 2000
Feng Y
;
Zhu M
;
Liu F
;
Liu J
;
Han H
;
Han Y
收藏
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浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2010/11/15
poly-Si
structure
hot-wire
plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD)
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
MICROCRYSTALLINE SILICON
HYDROGEN
Influence of substrate orientation on In0.5Ga0.5As/GaAs quantum dots grown by molecular beam epitaxy
会议论文
50th iumrs international conference on advanced materials, beijing, peoples r china, jun 13-18, 1999
作者:
Xu B
;
Ye XL
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2010/11/15
quantum dots
high index
molecular beam epitaxy
photoluminescence
SURFACE SEGREGATION
ORIENTED GAAS
INGAAS
ISLANDS
WELLS
DISKS
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