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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2020     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 扫描哈特曼方法的像质检测性能分析 期刊论文 光学学报, 2020, 卷号: 40, 期号: 7, 页码: 109-116 作者:  戴勋义[1,2];  谭毅[1,2];  任戈[1,2];  谢宗良[1,2] 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2021/05/11 测量  扫描哈特曼技术  [7948209]ZERNIKE多项式  像质检测  子孔径斜率