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浏览/检索结果: 共50条，第1-10条 帮助 限定条件 发表日期：2018    专题：湖南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Observation of ψ(3686)→η′e+e− 期刊论文 Physics Letters B, 2018 - 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2019/12/26 e+e−  Annihilation  Dalitz  decay  Charmonium  BESIII   Measurement of e e → DD cross sections at the ψ resonance 期刊论文 Chinese Physics C, 2018, 卷号: Vol.42 No.8 - 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/26 BESIII/BEPCII  charm mesons  cross sections   Study of Gamma production in pPb collisions at root(s)(NN) (=)8.16 TeV 期刊论文 JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS, 2018, 卷号: No.11 作者:  Aaij, R;  Beteta, CA;  Adeva, B;  Adinolfi, M;  Aidala, CA 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/26 Heavy Ion Experiments   Measurement of the integrated Luminosities of cross-section scan data samples around the (3770) mass region 期刊论文 Chinese Physics C, 2018, 卷号: Vol.42 No.6, 页码: 063001 - 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/26 Measurement of the integrated Luminosities of cross-section scan data samples around the φ mass region 期刊论文 Chinese Physics C, 2018, 卷号: Vol.42 No.6 - 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/26 BESIII  Bhabha scattering events  integrated luminosity   Dalitz plot analysis of the decay omega -> pi(+) pi(-) pi(0) 期刊论文 PHYSICAL REVIEW D, 2018, 卷号: Vol.98 No.11 作者:  Ablikim, M;  Achasov, MN;  Ahmed, S;  Albrecht, M;  Alekseev, M 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/26 Study of the decays D+-> eta(('))e(+)nu(e) 期刊论文 PHYSICAL REVIEW D, 2018, 卷号: Vol.97 No.9 作者:  Ablikim, M;  Achasov, MN;  Ahmed, S;  Albrecht, M;  Amoroso, A 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/26 Determination of the number of ψ events at BESIII 期刊论文 Chinese Physics C, 2018, 卷号: Vol.42 No.2 - 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/26 Bhabha process  hadronic events  inclusive process  φ(3686)   Observation of D0(+) -> K-S(0)pi(0(+))eta \' and improved measurement of D-0 -> K-pi(+)eta \' 期刊论文 PHYSICAL REVIEW D, 2018, 卷号: Vol.98 No.9 作者:  Ablikim, M;  Achasov, MN;  Ahmed, S;  Albrecht, M;  Alekseev, M 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/26 Angular dependency on heavy-ion-induced single-event multiple transients (SEMT) in 65?nm twin-well and triple-well CMOS technology 期刊论文 Microelectronics Reliability, 2018, 卷号: Vol.91, 页码: 278-282 作者:  Zhang, Jizuo;  Chen, Jianjun;  Huang, Pengcheng;  Li, Shouping;  Fang, Liang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/26