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基于p‑i‑n结构的位移损伤剂量探测方法 专利
申请日期: 2017-09-01,
作者:  于新;  何承发;  施炜雷;  郭旗;  文林
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集成电极电光调谐回音壁模式微腔的制备方法 专利
专利号: CN106374335A, 申请日期: 2017-02-01, 公开日期: 2017-02-01
作者:  程亚;  汪旻;  林锦添;  方致伟;  廖洋
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