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使源/漏区更接近沟道区的MOS器件及其制作方法 专利
专利号: CN201210089963.4, 申请日期: 2015-12-16, 公开日期: 2013-10-23
作者:  秦长亮;  叶甜春;  殷华湘
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光照稳定性非晶态金属氧化物TFT器件以及显示器件 专利
专利号: CN201110257633.7, 申请日期: 2015-09-23, 公开日期: 2013-03-13
作者:  董立军;  殷华湘;  王玉光;  陈大鹏
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单片集成红外焦平面探测器 专利
专利号: CN201310024184.0, 申请日期: 2015-09-16, 公开日期: 2013-05-01
作者:  殷华湘;  王玉光;  陈大鹏
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半导体器件及其制造方法 专利
专利号: CN201110068069.4, 申请日期: 2015-08-05, 公开日期: 2012-09-26
作者:  殷华湘;  陈大鹏
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具有高击穿电压的HEMT及其制造方法 专利
专利号: CN201110116103.0, 申请日期: 2015-04-08, 公开日期: 2012-11-07
作者:  赵超;  罗军;  陈大鹏;  叶甜春
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