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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 发表日期：2014     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 NBTI degradation in STI-based LDMOSFETs 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/10 NBTI degradation  STI-based LDMOSFETs  HCI  MR-DCIV  TRANSISTORS   Reliability characterization of silicon-based germanium waveguide photodetectors 期刊论文 光学工程, 2014 Tu, Zhijuan; Zhou, Zhiping; Wang, Xingjun 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 germanium waveguide photodetector  reliability  silicon photonics  PMOS NBTI DEGRADATION  COMPREHENSIVE MODEL  DARK-CURRENT  PHOTODIODES   Understanding the Correlation of HCI and NBTI Degradation in pLDMOSFETs from MR-DCIV Technique 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2015/11/13 TRANSISTORS  SILICON   Reliability considerations of high speed Germanium waveguide photodetectors 其他 2014-01-01 Tu, Zhijuan; Zhou, Zhiping; Wang, Xingjun 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 Germanium waveguide photodetector  Reliability  Silicon photonics  PMOS NBTI DEGRADATION  COMPREHENSIVE MODEL  DARK-CURRENT  PHOTODIODES  SILICON   Understanding of self-heating enhanced degradation in pLDMOSFETs by MR-DCIV method 其他 2014-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 高κ栅介质SOI nMOSFET正偏压温度不稳定性的实验研究 期刊论文 北京大学学报 自然科学版, 2014 李哲; 吕垠轩; 何燕冬; 张钢刚 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2015/11/13 正偏置温度不稳定性(PBTI)  高介电常数栅介质  绝缘衬底上的硅型金属氧化层半导体场效应晶体管(SOI MOSFET)  退化  应力诱导漏电流(SILC)  PBTI  high-κ gate dielectrics  SOI MOSFET  degradation  SILC   A comprehensive NBTI degradation model based on ring oscillator circuit 其他 2014-01-01 Qiao, Fang; He, Yandong; Ai, Leilei; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Run-time technique for simultaneous aging and power optimization in gpgpus 其他 2014-01-01 Chen, Xiaoming; Wang, Yu; Liang, Yun; Xie, Yuan; Yang, Huazhong 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13