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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2008    专题：上海光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 带倒向波抑制环形混合腔固体板条激光器 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200720069141.4, 申请日期: 2008-04-02, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 黄剑峰; 施翔春 收藏  |  浏览/下载：18/3  |  提交时间：2011/07/14 SiO_2薄膜折射率的准确拟合分析 期刊论文 中国激光, 2008, 卷号: 35, 期号: 5, 页码: 760, 763 王胭脂; 张伟丽; 范正修; 黄建兵; 晋云霞; 姚建可; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1271/128  |  提交时间：2009/09/22 词薄膜  SiO2折射率  包络法  准确拟合  Accurately fitting  Envelop method  Optical-  Refractive index of SiO2  Thin films   4H-SiC基底Al_2O_3/SiO_2双层减反射膜的设计和制备 期刊论文 光学学报, 2008, 卷号: 28, 期号: 12, 页码: 2431, 2435 黄火林; 张峰; 吴正云; 齐红基; 姚建可; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1114/176  |  提交时间：2009/09/22 薄膜光学  Al2O3/SiO2双层减反射膜  电子束蒸发  4H-SiC基底  折射率  4H-SiC substrate  Al2O3/SiO2 double-layer anti-reflection coatings  Deposited layers  Electron beam evaporation  Layer coatings  Layer thicknesses  Physical thicknesses  Reference wavelengths  Reflection spectrums  Scanning electron microscopes  SEM images  Single layers  Thin film optics  UV optoelectronic devices  Wavelength selectivities