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光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置及其测量方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL200310109410.1, 申请日期: 2007-08-08, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
方祖捷; 瞿荣辉; 蔡海文; 李琳
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