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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2006    内容类型：成果     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种绝缘体上硅的埋层氧化物电荷密度的快速表征方法 成果 鉴定: 无, 2006 孙佳胤; 王曦; 陈静; 张恩霞 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2013/04/12