QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2006    内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 倾斜入射光散射式硅片表面缺陷检测仪 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200520045038.7, 申请日期: 2006-10-04, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 程兆谷; 高海军; 覃兆宇; 张志平; 黄惠杰; 钱红斌 收藏  |  浏览/下载：52/2  |  提交时间：2011/07/14 具有散射光强倍增系统的硅片表面缺陷检测仪 专利 专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200520043341.3, 申请日期: 2006-08-30, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15 张志平; 程兆谷; 高海军; 覃兆宇 收藏  |  浏览/下载：24/8  |  提交时间：2011/07/14