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科研机构
半导体研究所 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2006 [5]
学科主题
光电子学 [5]
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发表日期:2006
学科主题:光电子学
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Effect of GaAS(100) 2 degrees surface misorientation on the formation and optical properties of MOCVD grown InAs quantum dots
期刊论文
applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 23, 页码: 8126-8130
Liang S (Liang S.)
;
Zhu HL (Zhu H. L.)
;
Ye XL (Ye X. L.)
;
Wang W (Wang W.)
收藏
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浏览/下载:39/0
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提交时间:2010/04/11
photoluminescence
quantum dots
indium arsenide
1.3 MU-M
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
PHASE-EPITAXY
GAAS
LUMINESCENCE
SUBSTRATE
ISLANDS
DENSITY
LASERS
LAYER
Reduction of dislocations in GaN epilayer grown on Si (111) substrates using a GaN intermedial layer
期刊论文
chinese physics letters, 2006, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 2591-2594
Wang JF (Wang Jian-Feng)
;
Zhang BS (Zhang Bao-Shun)
;
Zhang JC (Zhang Ji-Cai)
;
Zhu JJ (Zhu Jian-Jun)
;
Wang YT (Wang Yu-Tian)
;
Chen J (Chen Jun)
;
Liu W (Liu Wei)
;
Jiang DS (Jiang De-Sheng)
;
Yao DZ (Yao Duan-Zheng)
;
Yang H (Yang Hui)
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2010/04/11
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
HIGH-QUALITY GAN
ALN BUFFER LAYER
NUCLEATION LAYER
PHASE EPITAXY
EVOLUTION
DENSITY
SILICON
STRESS
SI
Thermal stress analysis for GaInAsP multiple quantum well wafer chemically bonded to Si (100)
期刊论文
journal of applied physics, 2006, 卷号: 100, 期号: 2, 页码: art.no.023513
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
收藏
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2010/04/11
ACTIVATED BONDING METHOD
ROOM-TEMPERATURE
EPITAXIAL OVERGROWTHS
SURFACE
CRYSTAL
GAAS
TECHNOLOGY
ENERGY
FILMS
Analysis of Si/GaAs Bonding Stresses with the Finite Element Method
期刊论文
半导体学报, 2006, 卷号: 27, 期号: 11, 页码: 1906-1910
作者:
Cao Yulian
;
Chen Lianghui
;
Wu Xuming
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2010/11/23
Strain analysis of InP/InGaAsP wafer bonded on Si by X-ray double crystalline diffraction
期刊论文
materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 133, 期号: 1-3, 页码: 117-123
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
;
Wang YT (Wang Yu-Tian)
收藏
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2010/04/11
InP
Si
X-ray double crystalline diffraction
thermal strain
wafer bonding
OPTOELECTRONIC DEVICES
EPITAXIAL OVERGROWTHS
TEMPERATURE
INTERFACE
STRESSES
VCSELS
SURFACES
ENERGY
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