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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：1996    学科主题：半导体器件     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Microscopic analysis of defects in a high resistivity silicon detector irradiated to 1.7x10(15)n/cm(2) 期刊论文 ieee transactions on nuclear science, 1996, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 1590-1598 Li Z; Ghislotti G; Kraner HW; Li CJ; Nielsen B; Feick H; Lindstroem G 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2010/11/17 RADIATION-DAMAGE  JUNCTION