扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法

	扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法
	吴东昌; 牛牧童; 张锦平; 黄凯; 张燚; 董晓鸣; 曾雄辉; 徐科
	2015-06-03
专利号	CN103149228B
专利类型	发明
权利人	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日期	2013-03-17
专利申请号	201310083608.0
内容类型	专利
源URL	[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/3198]
专题	苏州纳米技术与纳米仿生研究所_测试分析平台
作者单位	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	吴东昌,牛牧童,张锦平,等. 扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法. CN103149228B. 2015-06-03.