基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法 | |
龚国良 ; 鲁华祥 ; 边昳 ; 陈旭 ; 陈刚 ; 张放 ; 金敏 ; 徐元 | |
专利国别 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院半导体研究所 |
学科主题 | 人工智能 |
公开日期 | 2012-10-24 |
申请日期 | 2012-07-27 |
专利申请号 | CN201210263999.X |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25231] ![]() |
专题 | 半导体研究所_高速电路与神经网络实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 龚国良,鲁华祥,边昳,等. 基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法. |
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