一种基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法

	一种基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法
	刘广
	2012
专利国别	中国
专利类型	发明
权利人	中国科学院空间科学与应用研究中心
中文摘要	本发明涉及一种基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，该方法通过将实际抛物面坐标带入物理光学仿真分析计算中，得到天线的实际方向图。所述的方法包括步骤：1)通过光学测量进行天线的形面测试，得到反射面坐标点；2)将实测天线形面的坐标点带入进行物理光学计算，最终得到天线的实际方向图。或所述的方法包括步骤：1′)在热变形分析基础上得到在外热流中天线形面的反射面坐标点；2)将上述步骤得到的天线形面的反射面坐标点作为反射面进行物理光学计算，最终得到天线的实际方向图。本发明的优点在于，1)快速便捷特性；2)普使性强；3)灵活。
学科主题	G01R29/10
公开日期	2012-06-20
申请日期	2011-11-04
语种	中文
专利申请号	CN201110346210.2
内容类型	专利
源URL	[http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/2340]
专题	国家空间科学中心_微波遥感部
推荐引用方式 GB/T 7714	刘广. 一种基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法. 2012-01-01.