| 题名 | 上海光源BL14W1线站高分辨XAFS方法的实现及其应用研究 |
| 作者 | 高星 |
| 学位类别 | 博士 |
| 答辩日期 | 2013-10 |
| 导师 | 黄宇营 |
| 关键词 | 高分辨 吸收谱 发射谱 Eu(Ⅲ) 相互作用 |
| 其他题名 | High-resolution XAFS method at SSRF BL14W1 Beamline and its application |
| 学位专业 | 核技术及应用 |
| 中文摘要 | 自同步辐射光源发现以来，同步辐射实验方法已成为科学研究中一种越来越重要的实验技术。伴随着同步辐射技术的发展，X射线吸收精细结构谱（XAFS）方法也得到了快速的发展，新的实验技术如快速扫描XAFS、掠入射XAFS等相继出现。发展并利用新的实验技术，已经成为XAFS领域的重要方向之一。 上海光源BL14W1线站是一条硬X射线通用谱学线站，主要进行X射线吸收精细结构谱的研究。现在已有多种吸收谱的测试手段如透射法，lytle荧光法、32元固探荧光法、掠入射XAFS方法，并可以在高低温等环境下进行XAFS谱的测试。高分辨XAFS方法的发展不仅可以拓展线站的实验技术，还可以解决一些常规XAFS方法无法解决的问题。 高分辨XAFS谱仪是利用高能量分辨的分析晶体的谱仪，使样品、分析晶体、探测器三者采取罗兰圆几何结构。可以研究电子跃迁发出的更精细的光谱，一般主要是观测元素的Kβ1,3及其附近的各种卫星谱线，这些谱线往往需要几个eV或更高能量分辨的探测方法才能实现，常规探测方法的能量分辨率一般不好于120eV，难以或无法区分Kβ1,3及其附近的卫星谱线，而正是Kβ1,3及其附近的卫星谱线包含了重要的结构信息，如电子自旋与轨道耦合等，通过研究这种高分辨的发射谱及吸收谱可以获得常规XAFS吸收谱得不到的结构和信息。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-12-06 |
| 页码 | 95 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/13352]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高星. 上海光源BL14W1线站高分辨XAFS方法的实现及其应用研究[D]. 2013. |
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