天问一号高分相机CMOS曝光参数设计与卷帘校正

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	天问一号高分相机CMOS曝光参数设计与卷帘校正
	李云辉; 王晓东; 刘文光; 周鹏骥; 黄敬涛; 董吉洪
刊名	光学精密工程
	2022-01-25
卷号	30 期号:02 页码:143-152
英文摘要	为获取高信噪比、明暗度适宜的火表图像,对天问一号火星高分相机CMOS探测器曝光参数开展了详细设计,并对卷帘效应畸变进行了量化分析与校正。首先建立了CMOS探测器光电响应模型,对比了曝光参数中曝光时间与PGA增益对成像信噪比的影响,确定曝光时间为优先调节参量。在分析曝光时间约束条件、明确靶面辐照度计算方法后,给出了不同火表反射率、太阳天顶角及轨道高度参数下的曝光时间设计结果与成像信噪比。最后针对CMOS探测器卷帘畸变机理进行分析,给出了校正方法及理论校正精度。仿真实验结果表明:成像信噪比在非轨道像移受限区域保持在48.28 dB左右,在受限区域则逐步降低,反射率取0.1时最低值为32.45 dB,典型辐照环境下成像信噪比为45.56 dB。根据实际轨道像移分析,CMOS探测器卷帘效应会造成数十像素倾斜畸变,在轨道像移测量误差不超过3.46‰前提下,所述方法校正后图像特征点位移量优于1个像素。
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66315]
专题	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	李云辉,王晓东,刘文光,等. 天问一号高分相机CMOS曝光参数设计与卷帘校正[J]. 光学精密工程,2022,30(02):143-152.
APA	李云辉,王晓东,刘文光,周鹏骥,黄敬涛,&董吉洪.(2022).天问一号高分相机CMOS曝光参数设计与卷帘校正.光学精密工程,30(02),143-152.
MLA	李云辉,et al."天问一号高分相机CMOS曝光参数设计与卷帘校正".光学精密工程 30.02(2022):143-152.