真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析

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	真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析
	张伟政; 席喜林; 丁雪兴; 李水平
刊名	机械设计与制造工程
	2018-04-15
期号	2018年04期页码:33-38
关键词	C形圈 Von Mises应力接触应力泄漏率
ISSN号	ISSN：2095-509X
英文摘要	利用大型非线性有限元软件Marc建立了C形密封圈(简称C形圈)三维有限元模型,用单轴拉伸试验确定了C形圈材料聚四氟乙烯的参数。介绍了C形圈密封机理以及泄漏通道的形成机理。重点分析了介质压力对C形圈主材料聚四氟乙烯的最大Von Mises应力的影响以及C形圈压缩率和介质压力对C形圈主材料聚四氟乙烯接触应力的影响。同时,利用罗思·A密封理论分析了C形圈压缩率以及密封件表面粗糙度对C形圈泄漏率的影响。研究表明:当介质压力增大时,C形圈聚四氟乙烯部分的最大Von Mises应力整体是增大的;随着C形圈压缩率和介质压力的增大,C形圈聚四氟乙烯部分的接触应力也在增大;C形圈的泄漏率随着压缩率的增加而减小,随着密封件表面粗糙度的增大而增大。
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语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://119.78.100.223/handle/2XXMBERH/2428]
专题	石油化工学院
作者单位	兰州理工大学石油化工学院
推荐引用方式 GB/T 7714	张伟政,席喜林,丁雪兴,等. 真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析[J]. 机械设计与制造工程,2018(2018年04期):33-38.
APA	张伟政,席喜林,丁雪兴,&李水平.(2018).真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析.机械设计与制造工程(2018年04期),33-38.
MLA	张伟政,et al."真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析".机械设计与制造工程 .2018年04期(2018):33-38.