| 一种高精度谱带辐射率测量系统和方法 | |
| 黄善杰; 许方宇; 王岭雪; 宋腾飞; 张涛 | |
| 2022-07-08 | |
| 著作权人 | 中国科学院云南天文台 |
| 专利号 | ZL202210376809.9 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种高精度谱带辐射率测量系统和方法，该系统包括红外测量装置和控温装置；控温装置包括第一水冷机和第二水冷机。在不同镜头温度下，分别对不同温度的被测目标和黑体进行红外测量，获得对应的仪器读数。根据仪器读数方程，建立两个超定方程组，并求解最小二乘解，进而获得被测目标的谱带辐射率。本发明可以用于测量常规物体以及抛光金属表面、光滑涂层表面、光学镜面、光滑陶瓷表面等非朗伯体在特定温度范围内的谱带辐射率。 |
| 学科主题 | 仪器仪表技术 |
| 公开日期 | 2022-07-08 |
| 申请日期 | 2022-04-12 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/25280]  |
| 专题 | 云南天文台_选址与日冕观测组 |
| 作者单位 | 中国科学院云南天文台, 云南省昆明市官渡区羊方旺396号 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄善杰,许方宇,王岭雪,等. 一种高精度谱带辐射率测量系统和方法. ZL202210376809.9. 2022-07-08. |
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